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ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。

橡膠塑料薄膜體積表面電阻率測試儀 工廠既可測量高電阻，又可測微電流。采用了美國In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計和電流。量限從1×104Ω～1×1018Ω，是目前國內(nèi)測量范圍Z寬，準(zhǔn)確度Z高的數(shù)字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4～1×10-16Ａ。機(jī)內(nèi)測試電壓為100/250/500/1000V任意可調(diào)。

ZJD-B/ZJD-C介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀高頻Q表能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。

ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀又稱介電常數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗測試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗角正切測試儀、高頻/工頻介電常數(shù)測試儀。作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz。

介電常數(shù)測試儀的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機(jī)控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至Z低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量時更為精確。

ZJD-B/ZJD-C介電常數(shù)測試儀（固液體）電容,電感,Q值,頻率,量程都用數(shù)字顯示,在某一頻率下,只要能找到諧振點,都能直接讀出電感,電容值,大大擴(kuò)展了電感的測量范圍,而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。ZJD-B/ZJD-C*的諧振點頻率自動搜索或電容自動搜索功能,能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點,自動讀出Q值和其它參數(shù)。Q值量程可手動或自動轉(zhuǎn)換。