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固體電介質(zhì)擊穿電壓的過程

更新時間:2023-12-28      點擊次數(shù):786

固體電介質(zhì)擊穿電壓的過程:

1.固體電介質(zhì)擊穿特性的劃分

固體由介質(zhì)有幾種不同的擊穿形式:一種是與氣體擊穿過程相類似的電擊穿;一種是與熱的過程相聯(lián)系的熱擊穿;還有一種是長時間的電化學(xué)擊穿。固體電介質(zhì)的幾種擊穿形式與電壓的作用時間密切相關(guān),如圖4-22所示。下面先結(jié)合擊穿電壓和電壓作用時間的關(guān)系,以及擊穿電壓和電介質(zhì)溫度的關(guān)系,說明電擊穿和熱擊穿的區(qū)別及聯(lián)系。
4-23所示為油浸電工紙板擊穿電壓和電壓作用時間關(guān)系的試驗結(jié)果。在極短時間的電壓作用下,擊穿電壓隨擊穿時間的縮短而提高,類似于氣體電介質(zhì)擊穿的伏秒特性;擊穿時間在10μs~0.2s范圍內(nèi)時擊穿電壓大致恒定,與時間無關(guān)。這兩段的擊穿都具有電0μs~0.擊穿性質(zhì)。電壓作用時間繼續(xù)加長,則擊穿電壓隨擊穿前電壓作用時間的增加而明顯下降,具有熱擊穿的特點。至于電壓作用時間更長的電化學(xué)擊穿,又稱電老化,其擊穿時間在幾十個小時以上,甚至幾年。

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4-24是聚乙烯材料的擊穿電壓和電介質(zhì)周圍環(huán)境溫度關(guān)系的試驗結(jié)果。實驗曲線明顯分為兩個范圍,周圍溫度在t。以下時,擊穿電壓和電介質(zhì)溫度無關(guān),屬于電擊穿;當(dāng)周圍溫度超過to后,擊穿電壓隨溫度的增加而明顯下降,屬于熱擊穿。不同材料的轉(zhuǎn)折溫度t。是不同的,即使是同種材料,材料越厚,電介質(zhì)損耗越大,散熱越困難,t。就越低,即導(dǎo)致熱擊穿的環(huán)境溫度就越低。
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2.電擊穿
電擊穿理論是建立在固體電介質(zhì)中發(fā)生碰撞電離基礎(chǔ)上的,固體電介質(zhì)中存在的少量傳導(dǎo)電子,在電場加速下與晶格結(jié)點上的原子碰撞,從而擊穿。根據(jù)對碰撞電離的不同解釋,電擊穿理論又分為固有擊穿理論與電子崩擊穿理論。
電擊穿的特點:電壓作用時間短,擊穿電壓高,擊穿電壓與電介質(zhì)溫度、散熱條件、電介質(zhì)厚度、頻率等因素都無關(guān),但和電場的均勻程度關(guān)系極大。此外與電介質(zhì)特性也有很大關(guān)系,如果電介質(zhì)內(nèi)含氣孔或其他缺陷,這類缺陷對電場造成畸變,導(dǎo)致電介質(zhì)擊穿電壓降低。在極不均勻電場及沖擊電壓作用下,電介質(zhì)有明顯的不全擊穿現(xiàn)象,不全擊穿導(dǎo)致絕緣性能逐漸下降的效應(yīng)稱為累積效應(yīng)。電介質(zhì)擊穿電壓會隨沖擊電壓施加次數(shù)的增加而下降。

3.熱擊穿
由于電介質(zhì)損耗的存在,固體電介質(zhì)在電場中會逐漸發(fā)熱升溫,溫度的升高又會導(dǎo)致固體電介質(zhì)電阻的下降,使電流進(jìn)一步增大,損耗發(fā)熱也隨之增大。在電介質(zhì)不斷發(fā)熱升溫的同時,也存在一個通過電極及其他電介質(zhì)向外不斷散熱的過程。一旦發(fā)熱超過散熱,則電介質(zhì)溫度會不斷上升,以致引起電介質(zhì)分解炭化,最終擊穿,這一過程稱為電介質(zhì)的熱擊穿過程。

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發(fā)熱、散熱與溫度的關(guān)系曲線如圖4-25所示,圖中曲線1、2、3分別為在電壓U1、U2、U3(U1>U2>U3)電介質(zhì)發(fā)熱量Q與電介質(zhì)中最高溫度的關(guān)系,直線4表示固體電介質(zhì)中最高溫度大于周圍環(huán)境溫度to時,散出的熱量Q與電介質(zhì)中最高溫度tm的關(guān)系。

對曲線1,發(fā)熱永遠(yuǎn)大于散熱,電介質(zhì)溫度將不斷升高,因此在電壓U1J1下最終發(fā)生熱擊穿。
曲線3部分在直線4之下,電介質(zhì)溫度t≤ta時,不會發(fā)生熱擊穿,電介質(zhì)溫度會逐漸升高,最終穩(wěn)定在ta因此稱ta為穩(wěn)定的熱平衡點。
電介質(zhì)溫度t>tb時,情況類似曲線1,最終發(fā)生熱擊穿。

電介質(zhì)溫度時,雖然發(fā)熱等于散熱,似乎電介質(zhì)溫度不會再上升,但這時只要稍有擾動,使t略大于tb,則電介質(zhì)溫度將不斷上升,再也回不到tb,直至熱擊穿。因此稱tb為不穩(wěn)定的熱平衡點。
ta<t<tb時,不會發(fā)生熱擊穿,電介質(zhì)溫度最終將穩(wěn)定在
曲線2與直線4相切,U2為臨界熱擊穿電壓;tk為臨界熱擊穿溫度。
對平板狀電介質(zhì)的發(fā)熱、散熱進(jìn)行計算推導(dǎo),可得出熱擊穿電壓Ub與各種發(fā)熱、散熱因素的關(guān)系如下:


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其中,f為頻率;h為電介質(zhì)厚度;εr為相對介電常數(shù);為熱擊穿臨界溫度;t。為環(huán)境溫度;tano。為溫度t。時的電介質(zhì)損耗角正切;λ為導(dǎo)熱系數(shù);σ為散熱系數(shù)。
當(dāng)發(fā)熱因素f,εr,to,tanδo。上升或增加時,熱擊穿電壓Ub將下降;當(dāng)散熱因素σ,λ上升時,熱擊穿電壓Ub將上升;而電介質(zhì)厚度h在分子分母中都有,可見增加厚度,擊穿電壓Ub,不一定上升。因此在發(fā)生熱擊穿時,采取加厚絕緣材料的辦法不一定有效。

4.電化學(xué)擊穿(電老化)
在電場的長時間作用下逐漸使電介質(zhì)的物理、化學(xué)性能發(fā)生不可逆的劣化,最終導(dǎo)致?lián)舸?,這過程稱電老化。電老化的類型有電離性老化、電導(dǎo)性老化和電解性老化。前兩種主要在交流電壓下產(chǎn)生;后一種主要在直流電壓下產(chǎn)生。有機(jī)電介質(zhì)表面絕緣性能破壞的表現(xiàn),還有表面漏電起痕。

1)電離性老化
在電介質(zhì)夾層或電介質(zhì)內(nèi)部如果存在氣隙或氣泡,在交變場下氣隙或氣泡的場強會比鄰近固體電介質(zhì)內(nèi)的場強大得多,而氣體的起始電離場強又比固體電介質(zhì)低得多,所以在該氣隙或氣泡內(nèi)很容易發(fā)生電離。
此種電離對固體電介質(zhì)的絕緣有許多不良后果。例如,氣泡體積膨脹使電介質(zhì)開裂、分層,并使該部分絕緣的電導(dǎo)和電介質(zhì)損耗增大;電離的作用還可使有機(jī)絕緣物分解,新分解出的氣體又會加入到新的電離過程中;還會產(chǎn)生對絕緣或金屬有腐蝕作用的氣體,如O3,NO2等;電離還會造成電場的局部畸變,使局部電介質(zhì)承受過高的電壓,對電離的進(jìn)一步發(fā)展起促進(jìn)作用。
氣隙或氣泡的電離,通過上述綜合效應(yīng)會造成鄰近絕緣物的分解、破壞(表現(xiàn)為變酥、炭化等形式),并沿電場方向逐漸向絕緣層深處發(fā)展,在有機(jī)絕緣材料中放電發(fā)展通道會呈樹枝狀發(fā)展,稱為“電樹枝"。
這種電離性老化過程和局部放電密切相關(guān),所以許多高電壓電氣設(shè)備都將局部放電水平作為檢驗絕緣質(zhì)量的重要指標(biāo)。
2)電導(dǎo)性老化
如果在兩電極之間的絕緣層中存在液態(tài)導(dǎo)電物質(zhì)(例如水),當(dāng)該處場強超過某定值時,該液體會沿電場方向逐漸深入到絕緣層中,形成近似樹枝狀的痕跡,稱為“水樹枝",水樹枝呈絨毛狀的一片或多片,有扇狀、羽毛狀、蝴蝶狀等多種形式。
產(chǎn)生和發(fā)展“水樹枝"所需的場強比產(chǎn)生和發(fā)展“電樹枝"所需的場強低得多。產(chǎn)生水樹枝的原因是水或其他電解液中的離子在交變電場下反復(fù)沖擊絕緣物,使其發(fā)生疲勞損壞和化學(xué)分解,電解液便隨之逐漸滲透、擴(kuò)散到絕緣深處。
3)電解性老化
在直流電壓的長期作用下,即使所加電壓遠(yuǎn)低于局部放電的起始電壓,由于電介質(zhì)內(nèi)部進(jìn)行著電化學(xué)過程,電介質(zhì)也會逐漸老化,最終導(dǎo)致?lián)舸?。無機(jī)絕緣材料,如陶瓷、玻璃、云母等在直流電壓長期作用下,也存在顯著的電解性老化。當(dāng)有潮氣侵入電介質(zhì)時,水分子本身就會離解出H+和O2,會加速電解性老化。
4)表面漏電起痕及電蝕損
這是電介質(zhì)表面的一種電老化問題。在潮濕、臟污的電介質(zhì)表面會流過泄漏電流,在電流密度較大處會先形成干燥帶,電壓分布隨之不均勻,在干燥帶上分擔(dān)較高電壓,從而會形成放電小火花或小電弧,此種放電現(xiàn)象會使絕緣體表面過熱,局部炭化、燒蝕,形成漏電痕跡,漏電痕跡的持續(xù)發(fā)展可能逐漸形成沿絕緣體表面貫通兩端電極的放電通道。在潮濕、臟污地區(qū),此種放電現(xiàn)象會對設(shè)備絕緣造成嚴(yán)重危害。耐漏電起痕及耐電蝕損能力也是衡量電介質(zhì)性能的一項重要指標(biāo)。

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